Approches numériques de conception CEM de cartes électroniques basées sur les techniques d'apprentissage
Auteur / Autrice : | Alexandre Plot |
Direction : | Philippe Besnier, Béatrice Azanowsky |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance le 26/03/2024 |
Etablissement(s) : | Rennes, INSA |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Mathématiques, télécommunications, informatique, signal, systèmes, électronique (Rennes ; 2022-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Entreprise : Thales SIX/GTS France |
Laboratoire : Institut d'Électronique et de Télécommunications (Rennes) | |
Jury : | Président / Présidente : Geneviève Duchamp |
Examinateurs / Examinatrices : Philippe Besnier, Béatrice Azanowsky, Lionel Pichon, Christophe Guiffaut, Sonia Ben Dhia | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Lionel Pichon, Christophe Guiffaut |
Mots clés
Résumé
L’évolution constante des technologies des systèmes électroniques pose un défi du point de vue des performances de compatibilité électromagnétique (CEM). La nécessité de concevoir des équipements conformes aux normes CEM dès la première itération implique de prendre en compte la CEM dès les premières étapes de la conception. Ce mémoire s’intéresse à la conception CEM de cartes électroniques sous l’angle de la métamodélisation. L’utilisation d’une telle technique, permettant de se substituer à un modèle physique coûteux à calculer, présente un défi triple impliquant le choix d’une méthode appropriée, la détermination du nombre de données d’apprentissage, et les limites rencontrées dans le contexte de l’augmentation de la dimension (nombre de variables de conception). Cette thèse a permis de proposer une méthodologie complète répondant d’une part à la problématique de l’obtention d’un métamodèle fiable, et d’autre part au défi de l’analyse CEM de cartes électroniques. Un processus d’apprentissage systématique, reposant sur l’identification des variables prépondérantes et la mise en concurrence de plusieurs métamodèles dans un processus itératif d’apprentissage, est mis en place. Le métamodèle est ensuite utilisé comme modèle paramétrique du circuit imprimé, capable de calculer des grandeurs caractéristiques de performances CEM. La réalisation d’analyses de sensibilité et de criticité des paramètres de circuits imprimés, permet d’établir des règles de routage favorisant une conception CEM plus saine de la carte. Plusieurs situations physiques de conception sont étudiées afin de valider la méthode d’apprentissage et de confirmer la pertinence des règles de conception établies.