Le moteur de recherche
des thèses françaises
Sonia Ben Dhia
IdRefMots clés
FR |
EN
Compatibilité électromagnétique
Circuits intégrés
Modélisation
Vieillissement
Brouillage électromagnétique
MOS complémentaires
Mécanismes de dégradation
Fiabilité
Circuits imprimés
Ondes électromagnétiques
Immunité
Émission
Fiabilité électromagnétique
Technologie CMOS
Circuits intégrés -- Simulation par ordinateur
Interconnexion
Caractérisation
Systèmes embarqués (informatique)
Corrélation des tests DPI et BCI
Immunité des Circuit Intégrés