Sonia Ben Dhia
Mots clés
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Compatibilité électromagnétique
Circuits intégrés
Modélisation
Vieillissement
Brouillage électromagnétique
Immunité
MOS complémentaires
Mécanismes de dégradation
Fiabilité
Circuits imprimés
Ondes électromagnétiques
Simulation par ordinateur
Émission
Fiabilité électromagnétique
Systèmes embarqués (informatique)
Technologie CMOS
Circuits intégrés -- Simulation par ordinateur
Théorie du signal (télécommunications)
Détérioration
Composants électroniques