Thèse soutenue

Génération d'impulsions haute tension et étude de son impact sur l'évaporation par effet de champ en Sonde Atomique Tomographique

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Auteur / Autrice : Loic Rousseau
Direction : François Vurpillot
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Genie electrique
Date : Soutenance le 10/12/2021
Etablissement(s) : Normandie
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale physique, sciences de l’ingénieur, matériaux, énergie (Saint-Etienne du Rouvray, Seine Maritime)
Partenaire(s) de recherche : Etablissement de préparation de la thèse : Université de Rouen Normandie (1966-....) - Ecole supérieure d'ingénieurs en génie électrique (Rouen)
Laboratoire : Groupe de physique des matériaux (Saint-Etienne-du-Rouvray, Seine-Maritime ; 1996-....)
Jury : Examinateurs / Examinatrices : François Vurpillot, Abdelkrim Benchaib, Khalid Hoummada, Xavier Sauvage, Baptiste Gault, Kambiz Arab Tehrani
Rapporteurs / Rapporteuses : Abdelkrim Benchaib, Khalid Hoummada

Résumé

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La Sonde Atomique Tomographique utilise le phénomène d’évaporation par effet de champ pour arracher les atomes de la surface de l’échantillon. Les ions sont ensuite projetés dans un champ électrique divergent puis récoltés par un détecteur sensible en temps et en position. Enfin, grâce à l’utilisation d’algorithmes de traitement des données, il est alors possible de représenter la composition de cet échantillon en trois dimension à l’échelle atomique, afin d’en définir les propriétés physiques. Cependant la caractérisation de ces éléments dépend principalement de la compréhension des phénomènes d’évaporation par effet de champ, de la résolution en masse et de la résolution spatiale de l’instrument. Actuellement, l’utilisation d’impulsions haute tension pour déclencher le processus d’évaporation par effet de champ n’est pas sans défaut. En effet, la résolution en masse d’une sonde atome droite n’est pas optimale comparée à celle d’une sonde atomique à compensation d’énergie (réflectron). Cependant, elle présente le meilleur rendement de détection. Ces travaux apportent des solutions afin d’optimiser ce facteur de performance à travers des études approfondies sur la génération d’impulsions haute tension et des phénomènes d’évaporations par effet de champ associés.Une partie de cette thèse consiste à étudier les différentes technologies électroniques, composants et circuits, permettant la génération d’impulsions haute tension. Par la suite, un modèle géométrique de la sonde atomique est réalisé afin de visualiser l’influence de différentes formes d’impulsions sur les trajectoires de vol des ions. Les résultats des simulations montrent que la variation de champ influence la vitesse des ions. Cela dégrade la forme et la résolution des pics de masse et amplifie les aberrations chromatiques. Ces effets dynamiques sont particulièrement visibles pour les ions légers (M < 15amu).A l’issue de ces recherches, une nouvelle configuration de génération d’impulsion est proposée afin bénéficier des avantages de l’utilisation d’une impulsion nanoseconde. Celle-ci est réalisée expérimentalement sur un banc de test au sein du laboratoire. Les résultats montrent une nette amélioration de la résolution en masse à 10% et 1%.Par ailleurs, l’analyse des spectres de masse a démontré que des informations physiques intrinsèques au matériau sont disponibles en mesurant la pente de la traîne de masse. Ainsi, il est possible d’extraire la barrière d’énergie des atomes composant l’échantillon à partir des données expérimentales. Les atomes contenus dans la traîne de masse sont ensuite identifiés pour imager la variation des déficits en énergie dans un volume reconstruit. Cette nouvelle méthode de Spectrocopie des Pertes d’Energie par Evaporation par Effet de Champ est applicable pour tout échantillon analysé en Sonde Atomique droite à impulsion de tension.