Calcul tensoriel  Circuits imprimés  Compatibilité électromagnétique  Condensateurs électriques  Cristaux -- Défauts  Défauts cristallins  Détecteur sensible en position  Détecteurs de rayonnement  Effet dynamique  Fourier, Transformations de  Générateur d'impulsions  Générateurs d'impulsions  Hall quantique, Effet  Imagerie tridimensionnelle  Instrumentation  Lignes à retard  Microscopie ionique 3D  Microscopie ionique à émission de champ  Microscopie électronique  Monte-Carlo, Méthode de  Méthode de Kron-Branin  Métrologie  Ohm  Outil de simulation  Photoluminescence  Ponts de comparaison d'impédances coaxiaux  Reconstruction d'image  Recouvrement de spectre  Semiconducteurs de basse dimensionnalité  Simulation 3D  Simulation par ordinateur  Sonde atomique tomographique  Sondes atomiques tomographiques  Spectrométrie de masse à temps de vol  Spectroscopie de masse par désorption de champ  Traitement d'images  

François Vurpillot a rédigé la thèse suivante :

Étude de la fonction de transfert pointe-image de la sonde atomique tomographique

par François Vurpillot sous la direction de Didier Blavette - Rouen

Physique. Sciences des matériaux

Soutenue en 2001

François Vurpillot a dirigé les 7 thèses suivantes :

Génération d'impulsions haute tension et étude de son impact sur l'évaporation par effet de champ en Sonde Atomique Tomographique

par Loic Rousseau sous la direction de François Vurpillot - Normandie

Genie electrique

Soutenue le 10-12-2021

Nouvelle méthode d'imagerie 3D et d'analyse quantitative des défauts ponctuels et amas de défauts pour l'étude du vieillissement des matériaux.

par Benjamin Klaes sous la direction de François Vurpillot - Normandie

Physique

Soutenue le 25-11-2020

Nouvelle génération de détecteurs d'ions sensible en position et en temps pour le développement de la sonde atomique tomographique

par Christian Bacchi sous la direction de François Vurpillot - Normandie

Physique

Soutenue le 02-10-2020

Evaporation par effet de champ contrôlée précisément par effet électro-optique : application au développement de la sonde du futur

par Lu Zhao sous la direction de François Vurpillot - Rouen

Physique

Soutenue en 2016

Atom Probe-Based Correlative Multi-Microscopy for the Study of Low-Dimensional Semiconductors

par Lorenzo Mancini sous la direction de François Vurpillot et de Lorenzo Rigutti . - Rouen

Physique

Soutenue en 2016

Reconstruction 3D des images de Sonde Atomique Tomographique : dynamique d'évolution de l'émetteur et biais associés

par Nicolas Rolland sous la direction de Didier Blavette et de François Vurpillot . - Rouen

Physique

Soutenue en 2016

Etude de l'évaporation par effet de champ en sonde atomique tomographique : application à la métrologie de l'instrument

par Maria Theresa Gruber sous la direction de Bernard Deconihout et de François Vurpillot . - Rouen

Physique - Sciences des matériaux

Soutenue en 2012

François Vurpillot a été rapporteur de la thèse suivante :

Réalisation et caractérisation de dispositifs de mesure associés à la détermination de la constante de von Klitzing à partir d’un condensateur calculable étalon dit de Thompson-Lampard

par Ralph Sindjui sous la direction de Luc Chassagne - Université Paris-Saclay (ComUE)

Génie électrique, Métrologie

Soutenue le 01-07-2016

François Vurpillot a été membre de jury de la thèse suivante :

Tensorial analysis of multilayer printed circuit boards : computations and basics for multiphysics analysis

par Zhifei Xu sous la direction de Blaise Ravelo et de Olivier Maurice . - Normandie

Electronique, microelectronique, optique et lasers, optoelectronique microondes robotique

Soutenue le 05-03-2019