Développement de stratégies de test pour les systèmes de communications millimétriques
Auteur / Autrice : | Matthieu Verdy |
Direction : | Suzanne Lesecq, Dominique Morche |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Automatique et productique |
Date : | Soutenance le 22/09/2016 |
Etablissement(s) : | Université Grenoble Alpes (ComUE) |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Observatoire des micro et nanotechnologies (Grenoble) |
Jury : | Président / Présidente : Salvador Mir |
Examinateurs / Examinatrices : Patrick Loumeau, Gildas Léger, Jean-Pascal Mallet | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Thierry Taris, Serge Bernard |
Résumé
L’objectif de cette thèse est de développer une stratégie de test globale pour réduire le cout du test tout en garantissant une couverture de test complète. On s’intéressera plus particulièrement aux communications millimétriques à base de modulation OFDM. Les investigations devront être orientées vers l’implémentation de « BIST » dans le circuit pour relaxer les contraintes sur l’environnement de test. L’environnement de test est composé de l’ATE et de l’interface de test. Pour relaxer les contraintes sur l’environnement de test et ainsi réduire le cout du test, notre approche est d’opter pour un « ATE » standard » et d’implémenter le minimum possible de composants dans l’interface de test. Les spécifications des BIST et éventuellement des modules à implémenter dans l’interface de test devront être suffisamment précis et réalistes pour permettre une implémentation physique. Pour atteindre ces objectifs notre approche est de s’appuyer sur les modèles des différents blocs et de procéder à des simulations appropriées pour identifier les paramètres de test pertinents d’abord et ensuite proposer une solution de test qui permet de mesurer chaque paramètre. Les paramètres de test pertinents sont les paramètres qui permettent de tester le système de communication en un temps minimal avec une couverture de test convenable. Ces paramètres de test peuvent être déterminés en combinant le test fonctionnel au test structurel. Le test fonctionnel permet de détecter l’existence de fautes catastrophiques en un minimum de temps et le test structurel permet de localiser les fautes catastrophiques et de déterminer les performances individuelles des blocs critiques pour améliorer le rendement. Pour le test structurel, les performances individuelles des blocs critiques peuvent être déterminées directement au moyen de BIST dédiés ou indirectement en procédant à une corrélation entre les paramètres des blocs et un paramètre global tel que l’EVM ou tout autre type de paramètre adapté.