Salvador Mir
Mots clés
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Convertisseurs analogique-numérique
Test
MOS complémentaires
Circuits intégrés
Traitement du signal
Microélectronique
Métriques de test
Apprentissage automatique
Radiofréquences
Électronique numérique
Circuits intégrés analogiques numériques
FD-SOI (transistors)
Ondes millimétriques
Test fonctionnel
Conception en vue du test
Systèmes microélectromécaniques
Diagnostic
Essais
Nanoélectronique
Faible consommation