Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits

• Auteur / Autrice : Rodrigo Possamai Bastos
• Direction : Marc Renaudin, Ricardo Reis
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Micro et nanoélectronique
• Date : Soutenance en 2010
• Etablissement(s) : Grenoble INPG en cotutelle avec Université fédérale du Rio Grande do Sul

Mots clés

Mots clés contrôlés

Commande robuste

Circuits asynchrones

Résumé

Les technologies nanoélectroniques récentes font que les circuits intégrés deviennent de plus en plus vulnérables aux fautes transitoires. Les erreurs engendrées sont aussi plus critiques que jamais auparavant. Cette thèse présente un nouvel avantage en terme de fiabilité des circuits asynchrones quasi-insensibles aux délais (QDI) : Leurs fortes résistances naturelles aux fautes transitoires de longue durée qui sont graves pour les circuits synchrones actuels. Une méthodologie pour évaluer comparativement les effets des fautes transitoires sur les circuits synchrones et asynchrones QDI est présentée. En outre, une méthode pour obtenir la résistance aux fautes transitoires des éléments mémorisants spécifiques aux circuits QDI (les portes de Muller) est également proposée. Enfin, des techniques de tolérance ont été étudiées pour augmenter encore la robustesse des portes de Muller aux fautes transitoires, et donc aussi la robustesse des systèmes asynchrones QDI.

Recent deep-submicron technology-based ICs are significantly more vulnerable to transient faults. The arisen errors are thus also more critical than they have ever been before. This thesis presents a further novel benefit of the Quasi-Delay Insensitive (QDI) asynchronous circuits in terms ofreliability: their strong natural ability to mitigate long-duration transient faults that are severe in modern synchronous circuits. A methodology to evaluate comparatively the transient-fault effects on synchronous and QDI asynchronous circuits is presented. Furthermore, a method to obtain the transient-fault mitigation ability of the QDI circuits' memory elements (Le. , the C-elements) is also proposed. Finally, mitigation techniques are suggested to increase even more the C-elements' transient-fault attenuation, and thus also the QDI asynchronous systems' robustness.