Ricardo Reis
Mots clés
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Microélectronique
Design au niveau circuit
Variabilité de fabrication
Fiabilité
Soft error
FinFET
Fautes transitoires
Circuits durcis
Tolérance aux fautes (ingénierie)
Circuits asynchrones
Commande robuste
Doherty
Augmentation de rendement
Amplificateur de puissance
CMOS 65nm
Amplificateurs de puissance
UMTS (norme)
MOS complémentaires
Taux d'erreur soft
Vulnérabilité aux erreurs soft