Évaluation des méthodes d'analyse de la fiabilité des matrices de phototransistors bipolaires en silicium pour des applications spatiales
Auteur / Autrice : | Piero Spezzigu |
Direction : | Laurent Bechou, Yves Ousten, Massimo Vanzi |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance le 03/12/2010 |
Etablissement(s) : | Bordeaux 1 en cotutelle avec Università degli studi (Cagliari, Italie) |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde ; 1995-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) |
Jury : | Président / Présidente : Yann Deval |
Examinateurs / Examinatrices : Gianandrea Quadri, Agata Jozwicka, Jean-Luc Polleux | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Fausto Fantini, Frédéric Saigné |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
[FR] Les travaux de thèse s'inscrivent dans le contexte d'une évaluation de la fiabilité de matrices de phototransistors bipolaires en technologie silicium pour des applications de codage optique angulaire en environnement spatial. Après un état de l'art relatif aux technologies des phototransistors et un rappel sur leur fonctionnement physique, les conditions environnementales spécifiques liées au domaine spatial sont décrites. La caractérisation des paramètres électro-optiques des phototransistors, associée à une phase préliminaire de métrologie, a été effectuée à partir de bancs dédiés. L'étude de la sensibilité aux charges mobiles de technologies issues de différents fondeurs, habituellement piégées aux interfaces et identifiée comme un mécanisme fortement pénalisant en terme de durée de vie opérationnelle, a permis d'optimiser et fiabiliser une nouvelle source européenne. Une méthodologie originale basée sur le concept des plans d'expérience « D-optimal » a été mise en œuvre et validée. L'objectif est d'estimer le taux de dégradation d'un ou de plusieurs paramètres clés du composant en fonction des conditions environnementales imposées par l'orbite de rotation du satellite à partir d'un nombre limité d'expériences réalisées au sol.