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des thèses françaises
Frédéric Saigné
IdRefMots clés
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Ions lourds
Rayonnements ionisants
Composants électroniques
Fiabilité
Défauts latents
MOSFET de puissance
Transistors MOSFET
MOS (électronique)
MOS complémentaires
Rayonnements
Effets des radiations
Radiations
Radioactivité
Monte-Carlo, Méthode de
Système
Température
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Charge de claquage
Effets des rayonnements
Transistors de puissance