Frédéric Saigné
Mots clés
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Rayonnements ionisants
Composants électroniques
Ions lourds
Fiabilité
Effets des rayonnements
Rayonnements
Radiations
MOSFET de puissance
Défauts latents
Transistors MOSFET
MOS (électronique)
Effets des radiations
MOS complémentaires
Radioactivité
Circuits intégrés
Microélectronique
Modélisation
Radiation
Méthode de Monte-Carlo
Charge de claquage