Sur l'incorporation du thalium dans une matrice III-V : Préparation de GaTIAs et InTIAs par épitaxie par jets molélculaires
Auteur / Autrice : | Rémi Beneyton |
Direction : | Guy Hollinger |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Sciences. Dispositif de l'électronique intégré |
Date : | Soutenance en 2004 |
Etablissement(s) : | Ecully, Ecole centrale de Lyon |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes (Ecully, Rhône ; 1995-2006) |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
L'utilisation des longueurs d'onde infrarouges a pris un essor considérable depuis l'avènement des systèmes de télécommunication optique (proche infrarouge < 1. 6uM) et des applications militaires de détection (infrarouge moyen et lointain 3-12uM). De telles applications nécessitent d'intenses recherches dans le développement de nouveaux matériaux. Les alliages à base de thallium semble posséder un fort potentiel d'application. D'après les prévisions théoriques, ils permettraient de couvrire des gammes de longueurs d'onde allant de 1uM à 10uM en utilisant les filières III-V habituelles. Cependant peu de groupes ont réussi à incorporer du thallium et les quantités sont toujours très limitées. L'objectif générale de cette thèse était de repousser cette limite d'incorporation, soit par la compréhension de l'origine des limites d'incorporation dans INGAAS en comparant les systèmes GATLAS et INTLAS, soit par l'utilisation de cette nouvelle source plasma arsenic.