Test et conception de circuits intégrés digitaux : du niveau comportemental au niveau transferts de registres

Test and design of digital integrated circuits : from behavioral to register transfer level

• Auteur / Autrice : Ricardo Pires
• Direction : Bruno Rouzeyre
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Automatique, traitement du signal et génie informatique
• Date : Soutenance en 1998
• Etablissement(s) : Montpellier 2

Mots clés

Mots clés contrôlés

Essais

Conception et construction

Circuits intégrés numériques

Microélectronique

Résumé

Cette these a comme sujet la prise en compte du critere de testabilite pendant la synthese d'architectures de circuits integres numeriques. Une methode de synthese d'architectures en vue du test est developpee. Elle consiste d'abord a synthetiser des chemins de donnees tout en minimisant leur nombre de fautes non-testables. Pour ce faire, les problemes de testabilite des chemins de donnees sont identifies par une methode d'analyse de testabilite que nous avons developpee et ils sont regles pendant l'allocation de registres. Ensuite, nous etudions le probleme de la testabilite d'un chemin de donnees lorsqu'il est connecte au controleur. Nous avons developpe une methode de modification du controleur de facon a maintenir le chemin de donnees tres testable.