Décodage local des codes en métrique rang et somme-rang et applications à la cryptographie
| Auteur / Autrice : | Camille Garnier |
| Direction : | Olivier Ruatta, Ilaria Zappatore |
| Type : | Projet de thèse |
| Discipline(s) : | Mathématiques et applications |
| Date : | Inscription en doctorat le 16/09/2024 |
| Etablissement(s) : | Limoges |
| Ecole(s) doctorale(s) : | Sciences et Ingénierie |
| Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : XLIM |
| Equipe de recherche : XLIM MATHIS - Mathématiques & Sécurité de l'information |
Mots clés
Résumé
Cette thèse propose d'étudier le décodage local dans le cadre de la métrique rang, somme-rang et si possible sous-espaces dans l'optique d'applications à la cryptographie et à la cybersécurité plus largement. Les algorithmes de décodage locaux permettent de fournir des primitives cryptographiques et la capacité de le faire efficacement avec des codes adaptés en dehors de la métrique de Hamming fournit des perspectives prometteuses dans le cadre cryptographique post-quantique, mais aussi pour des problèmes de stockages et de communication répartis. Il y a peu de références sur le décodage local en métrique rang (on peut tout de même citer (2) et (3)). Cet état de l'art s'explique par la différence profonde entre la notion de support entre la métrique de Hamming et la métrique rang (et donc aussi les métriques somme-rang et sous-espaces). La notion de support introduite dans (1) semble la plus naturelle et la plus prometteuse en se basant sur l'expérience des encadrants. 1. Gaborit P. Ruatta O. and Schrek J. On the Complexity of the Rank Syndrome Decoding Problem. IEEE Trans Inf Theory. 2016;62(2):1006‑19. 2. Augot D., Couvreur A., Lavauzelle J. and Neri A., Rank-Metric Codes Over Arbitrary Galois Extensions and Rank Analogues of Reed--Muller Codes, SIAM Journal on Applied Algebra and Geometry, 5(2), 2021:165-199 3. Rank-metric codes with local recoverability | IEEE Conference Publication | IEEE Xplore [Internet]. [cité 22 févr 2024]. Disponible sur: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/7852348