Stabilisation de l'antiferroélectricité dans les films minces d'oxydes
Auteur / Autrice : | Krina Parmar |
Direction : | Vincent Garcia |
Type : | Projet de thèse |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Inscription en doctorat le 01/02/2024 |
Etablissement(s) : | université Paris-Saclay |
Ecole(s) doctorale(s) : | Physique en Ile de France |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire Albert Fert, CNRS, Thales, Université Paris Saclay |
Référent : Faculté des sciences d'Orsay |
Mots clés
Mots clés libres
Résumé
Dans les matériaux ferroélectriques, les dipôles électriques s'ordonnent parallèlement les uns aux autres, ce qui donne lieu à une polarisation électrique macroscopique qui peut être commutée par un champ électrique externe. Ces matériaux sont utilisés comme mémoires non volatiles dans lesquelles l'information est codée par la direction de la polarisation (vers le haut ou vers le bas). Lorsque l'épaisseur du film ferroélectrique atteint quelques nanomètres, l'inversion de la polarisation ferroélectrique peut produire des changements importants de la transmission tunnel, et donc une simple lecture résistive de l'état de polarisation ferroélectrique. En outre, ces jonctions tunnel ferroélectriques peuvent être utilisées comme des memristors (mémoires résistives analogiques) car la polarisation s'inverse par la nucléation et la croissance de domaines ferroélectriques. Nous avons démontré que ces memristors peuvent imiter le comportement des synapses dans les réseaux neuronaux artificiels. Notre défi est maintenant de trouver des matériaux similaires qui pourraient reproduire le comportement des neurones afin de construire des réseaux de neurones artificiels sur une puce. Les mémoires résistives volatiles basées sur des jonctions tunnel antiferroélectriques permettraient cette fonctionnalité. Dans les matériaux antiferroélectriques, chaque dipôle électrique voisin est disposé de manière antiparallèle, ce qui se traduit par une polarisation nette nulle. L'application d'un champ électrique à ces matériaux induit une transition de phase vers un état ferroélectrique. Cette thèse visera à explorer la physique des matériaux antiferroélectriques en couches minces et leur intégration dans des dispositifs neuromorphiques fonctionnels. L'archétype antiferroélectrique est le PbZrO3 et nous avons déjà fait des progrès récents dans la croissance et la démonstration d'un état antiferroélectrique dans les films minces épitaxiés de PbZrO3. Néanmoins, l'état antiferroélectrique disparaît à de faibles épaisseurs de film. Nous explorerons de nouvelles stratégies pour stabiliser l'antiferroélectricité grâce à la déformation épitaxiale, ainsi que des matériaux antiferroélectriques alternatifs, en vue de la réalisation de jonctions tunnel antiferroélectriques. Cette thèse porte sur la science des matériaux (croissance de couches minces, caractérisations structurales et physiques, transport électronique...) et fait partie d'un projet collaboratif dans le cadre des ''Programmes et équipements prioritaires de recherche'' récemment lancés. Le projet regroupe deux laboratoires de Paris-Saclay : Unité mixte de Physique CNRS-Thales (Vincent Garcia), et C2N (Thomas Maroutian).