Thèse en cours

Croissance van der Waals de couches 2D de matériaux chalcogénures pour l'électronique frugale

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Auteur / Autrice : Jules Lagrave
Direction : Pierre Noe
Type : Projet de thèse
Discipline(s) : MAT - Matériaux
Date : Inscription en doctorat le 02/10/2023
Etablissement(s) : Université Grenoble Alpes
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Ingénierie - matériaux mécanique énergétique environnement procédés production
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : CEA - Laboratoire d'électronique et de technologie de l'information

Mots clés

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Résumé

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Les mémoires magnétiques non volatiles (MRAM), telles que les STT-MRAM (Spin-torque Transfer MRAM), apparaissent comme des dispositifs extrêmement prometteurs pour réduire la consommation d'énergie des mémoires. Dans ce contexte, un couplage spin-orbite très fort à température ambiante a été démontré dans des hétérostructures 2D de matériaux chalcogénures à base de Tellure ouvrant la voie à de nouveaux dispositifs frugaux en énergie. D'autre part, les dispositifs thermoélectriques basés sur la conversion de l'énergie thermique en énergie électrique sont au cœur des systèmes de récupération d'énergie. Une nouvelle fois, les meilleurs matériaux thermoélectriques autour de la température ambiante sont des alliages chalcogénures à base de Tellure. Par conséquent, la maitrise de la synthèse de films minces cristallins de ces matériaux chalcogénures à base de Te est essentielle pour permettre une rupture technologique dans ces deux domaines d'applications. Au cours des dernières années, au LETI nous avons développé une expertise unique dans la croissance par épitaxie de van der Waals de films chalcogénures à base de Te par la technique de dépôt industriel par co-pulvérisation magnétron. L'objectif de cette thèse est d'étendre cette méthode de synthèse à de nouveaux composés pseudo 2D à base de Bi-Sb-Te(Se) destinés à ces nouvelles applications très basse consommation. Les propriétés de ces alliages seront étudiées à l'aide de caractérisations structurales avancées (microscopie électronique, expériences de rayons X au synchrotron, spectroscopie Raman et FTIR, mesure par effet Hall,...) couplées à la microscopie à force piézoélectrique (PFM) pour analyser leurs propriétés ferroélectriques.