Automatisation de la caractérisation des défauts cristallins par Microscopie Électronique à Balayage (MEB) : application aux matériaux pour l'industrie de l'électronique de puissance.
Auteur / Autrice : | Fatin El ajjouri |
Direction : | Antoine Guitton, Vincent Taupin |
Type : | Projet de thèse |
Discipline(s) : | Sciences des Matériaux |
Date : | Inscription en doctorat le 15/09/2023 |
Etablissement(s) : | Université de Lorraine |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale C2MP - Chimie mécanique matériaux physique (Lorraine ; 2018-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : LEM3 - Laboratoire d Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux |
Mots clés
Résumé
La microscopie électronique à balayage (MEB) peut généralement être utilisée pour caractériser les défauts microstructuraux dans les matériaux cristallins. L'imagerie de contraste par canalisation d'électrons (ECCI) permet d'observer directement les défauts cristallins, tels que les dislocations dans la subsurface (environ 100 nm de profondeur) des matériaux en vrac. Cette technique MEB émergente a le potentiel d'identifier les changements de contraste à la surface en utilisant des règles d'orientation cristallographique spécifiques et de les utiliser pour caractériser les défauts de manière non destructive. L'objectif de la thèse est de faire de l'ECCI une sonde robuste et non destructive pour les défauts cristallins dans les matériaux de l'électronique de puissance. Pour y parvenir, l'objectif est de combiner des conditions de canalisation des électrons avec une indexation des défauts basée sur la vision par ordinateur, et de les comparer avec des données simulées.