Adressage des verrous de rétention et écriture pour des points mémoire magnétiques MRAM sub-10nm
Auteur / Autrice : | Natalia Boscolo meneguolo |
Direction : | Olivier Fruchart |
Type : | Projet de thèse |
Discipline(s) : | Physique de la Matière Condensée et du Rayonnement |
Date : | Inscription en doctorat le 01/11/2023 |
Etablissement(s) : | Université Grenoble Alpes |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale physique |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Spintronique et Technologie des Composants |
Mots clés
Mots clés libres
Résumé
Les mémoires magnétiques à accès aléatoire (MRAM) sont une des réalisations technologiques phares qui ont été rendues possibles par les recherches fondamentales et découvertes en spintronique. Les MRAM présentent plusieurs points forts, dont l'absence de consommation électrique hors fonctionnement (par contraste avec les SRAM et DRAM), la très forte endurance (par contraste avec les flash), et un temps de commutation proche de la nanoseconde. Les programmes de l'essentiel des fondeurs et géants des semi-conducteurs ont intégré les MRAM. Leur marché est en croissance importante mais positionné sur quelques niches (mémoires cache pour les transferts de données pour la rapidité, ou dans les FPGA et l'IoT pour la faible consommation par exemple). L'adressage d'autres marchés à grande ampleur (mémoires DRAM à forte densité, ou à contraintes de haute température dans la robotique et l'automobile) nécessitent cependant de développer de nouveaux concepts pour renforcer leur stabilité thermique, notamment aux nuds technologiques les plus agressifs. Dans ce contexte, en 2018 deux acteurs majeurs en spintronique au niveau mondial ont proposé et développé de manière indépendante un nouveau concept : le centre Tohoku au Japon, et SPINTEC en Europe. Il s'agit de la mémoire MRAM 3D, dont la stabilité thermique et donc la capacité de rétention reposent sur l'anisotropie magnétique d'un nanopilier vertical, naturellement forte du fait de l'important volume associé, plutôt que sur des empilements ultraminces pour les MRAM standard, naturellement sujettes aux fluctuations thermiques du fait de leur basse dimensionnalité. Le travail réalisé a permis de trouver des voies de fabrication jusque sub-10 nm, et montrer la capacité d'écriture/lecture de cellules par un courant électrique, et s'est concrétisé par une combinaison de brevets et publications. Cependant, tant les expériences que les simulations montrent qu'un verrou de cette approche est une plus grande difficulté d'écriture par le courant électrique. L'effet sous-jacent de transfert de spin s'applique en effet essentiellement à l'interface d'une jonction magnétique, ce qui est naturellement moins efficace pour un pilier vertical qu'une couche ultramince. L'objectif de la thèse est d'explorer des voies disruptives afin de lever les verrous en écriture par courant électrique dans le concept de MRAM 3D. L'enjeu est de donner un réel potentiel applicatif à la preuve de concept réalisée jusqu'à présent, pour pouvoir envisager une montée en TRL. Ce faisant, il s'agit de lever des verrous en développant de nouveaux concepts physiques Étapes de la thèse o Simulation numérique pour tester de nouveaux designs : forme conique du point mémoire, cur-coquille avec couplages magnétostatiques ou RKKY. o Développement des briques de fabrication nécessaires, dans des via en matrice isolante. o Études nanomagnétiques des points mémoires et de leur stabilité thermique o Comportement en lecture/écriture sous courant, après réalisation d'une jonction tunnel magnétique après une planarisation CMP et dépôt d'électrode supérieure de référence.