Etude de la stabilité des pixels d'un imageur infrarouge refroidi

Study of the stability of the pixels of a cooled infrared imager

• Auteur / Autrice : Antoine Claret
• Direction : Olivier Gravrand, Vincent Goiffon
• Type : Projet de thèse
• Discipline(s) : Physique de la Matière Condensée et du Rayonnement
• Date : Inscription en doctorat le 14/11/2022
• Etablissement(s) : Université Grenoble Alpes
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale physique (Grenoble, Isère, France ; 1991-....)
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (LETI)

Mots clés

Mots clés libres

Infrarouge

Bruit

Imageur

Infrared

Electronic noise

Imager

Résumé

Le Laboratoire Infrarouge du département Optique et Photonique au CEA-LETI en partenariat avec LYNRED développe des imageurs infrarouges refroidis sur technologie HgCdTe avec d'excellentes performances. Toutefois, pour de nombreuses applications particulièrement exigeantes comme les applications spatiales, il est essentiel de comprendre l'origine des défauts résiduels et de les corriger. La thèse s'inscrit dans ce cadre, avec pour but de mettre en évidence le lien entre la contrainte mécanique induite par déformation et la défectivité des détecteurs. Pour cela, le doctorant utilisera un banc de caractérisation permettant d'appliquer volontairement une contrainte à des détecteurs en fonctionnement. L'étude des défauts mis en évidence avec des mesures électro-optiques, notamment le bruit temporel, en fonction de la contrainte devra permettre de comprendre les mécanismes physiques en jeu dans le semiconducteur. En fonction des technologies étudiées, il pourra être possible d'identifier les facteurs propices à la correction de ces défauts.

The Infrared Laboratory of the Optics and Photonics Department at CEA-LETI in partnership with LYNRED develops cooled infrared imagers on HgCdTe technology with excellent performances. However, for many particularly demanding applications such as space applications, it is essential to understand the origin of residual defects and to correct them. The thesis is part of this framework, with the aim of highlighting the link between strain-induced mechanical stress and detector defectivity. To do this, the PhD student will use a characterization bench to voluntarily apply a stress to detectors in operation. The study of the defects highlighted with electro-optical measurements, in particular the temporal noise, as a function of the stress will allow to understand the physical mechanisms at play in the semiconductor. Depending on the technologies studied, it may be possible to identify factors conducive to the correction of these defects.