Méthodologie de préparation d'échantillons et de lecture d'états logiques de cellules mémoires MRAM par microscopie à force atomique

Methodology for sample preparation and for logic states readout of MRAM memory cells by atomic force microscopy

• Auteur / Autrice : Louise Dumas
• Direction : François Marc, Hélène Fremont
• Type : Projet de thèse
• Discipline(s) : Electronique
• Date : Inscription en doctorat le 12/10/2021
• Etablissement(s) : Bordeaux
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale des sciences physiques et de l'ingénieur
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
• Partenaire(s) de recherche : Equipe de recherche : Modélisation compacte et caractérisation des dispositifs électroniques (MODEL)

Mots clés

Mots clés libres

Mram

Jmt

Lecture

Méthodologie

Préparation d'échantillons

C-afm

Mram

Mtj

Readout

Methodology

Sample preparation

C-afm

Résumé

L'objectif de cette thèse est de démontrer la possibilité de réaliser la récupération de données logiques dans des composants de technologies avancées (nœud <45nm) grâce à de l'imagerie électronique (MEB) et aux méthodes de sondage en champ proche (SPM). A terme ces techniques permettront d'évaluer le niveau de risque de fuite d'informations sensibles stockées ou manipulées dans les composants microélectroniques tel que des clés de chiffrement ou des microcodes…

The objective of this thesis is to demonstrate the possibility of performing logic data recovery in advanced technology components (<45nm node) using electronic imaging (SEM) and near field probing (NFP) methods. Eventually, these techniques will allow to evaluate the level of risk of leakage of sensitive information stored or manipulated in microelectronic components such as encryption keys or microcodes...