Résilience des processeurs RISC-V face aux injections de fautes
FR
Auteur / Autrice : | Théophile Gousselot |
Direction : | Jean-Baptiste Rigaud, Jean-Max Dutertre |
Type : | Projet de thèse |
Discipline(s) : | Microélectronique |
Date : | Inscription en doctorat le 01/01/2022 |
Etablissement(s) : | Saint-Etienne, EMSE |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Sciences Ingénierie Santé (Saint-Etienne) |