Mécanismes et origines de défaillance de diodes schottky en carbure de silicium soumises à contrainte thermique et à contrainte de décharge électrostatique

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La soutenance a eu lieu le 24/09/2013. Le document qui a justifié du diplôme est en cours de traitement par l'établissement de soutenance.

Auteur / Autrice :	Patrick Denis
Direction :	Olivier Latry
Type :	Projet de thèse
Discipline(s) :	Physique
Date :	Inscription en doctorat le 03/09/2010 Soutenance le 24/09/2013
Etablissement(s) :	Rouen
Ecole(s) doctorale(s) :	Ecole Doctorale Sciences Physiques, Mathématiques et de l'Information pour l'Ingénieur
Partenaire(s) de recherche :	Equipe de recherche : GROUPE DE PHYSIQUE DES MATERIAUX
Jury :	Président / Présidente : Zoubir Khatir
	Rapporteur / Rapporteuse : Stephane Lefebvre, Bruno Allard

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