Etude de la croissance et métrologie des impuretés dans les nanofils de silicium.

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La soutenance a eu lieu le 17/11/2011. Le document qui a justifié du diplôme est en cours de traitement par l'établissement de soutenance.

Auteur / Autrice :	Wanghua Chen
Direction :	Phillipe Pareige
Type :	Projet de thèse
Discipline(s) :	Physique
Date :	Inscription en doctorat le 03/10/2008 Soutenance le 17/11/2011
Etablissement(s) :	Rouen
Ecole(s) doctorale(s) :	Ecole Doctorale Sciences Physiques, Mathématiques et de l'Information pour l'Ingénieur
Partenaire(s) de recherche :	Equipe de recherche : GROUPE DE PHYSIQUE DES MATERIAUX
Jury :	Président / Présidente : Pere Roca i cabarrocas
	Examinateurs / Examinatrices : Rodrigue Larde, Vladimir Dubrovskii
	Rapporteur / Rapporteuse : Guido Schmitz, Daniel Bouchier

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