Thèse en cours

Etude de la croissance et métrologie des impuretés dans les nanofils de silicium.

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Triangle exclamation pleinLa soutenance a eu lieu le 17/11/2011. Le document qui a justifié du diplôme est en cours de traitement par l'établissement de soutenance.
Auteur / Autrice : Wanghua Chen
Direction : Phillipe Pareige
Type : Projet de thèse
Discipline(s) : Physique
Date : Inscription en doctorat le 03/10/2008
Soutenance le 17/11/2011
Etablissement(s) : Rouen
Ecole(s) doctorale(s) : Ecole Doctorale Sciences Physiques, Mathématiques et de l'Information pour l'Ingénieur
Partenaire(s) de recherche : Equipe de recherche : GROUPE DE PHYSIQUE DES MATERIAUX
Jury : Président / Présidente : Pere Roca i cabarrocas
Examinateurs / Examinatrices : Rodrigue Larde, Vladimir Dubrovskii
Rapporteurs / Rapporteuses : Guido Schmitz, Daniel Bouchier

Mots clés

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