Daniela Munteanu
IdRefMots clés
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Mosfet
Transistors MOSFET
Nanoélectronique
Technologie silicium sur isolant
Microélectronique
Rayonnements ionisants
Semiconducteurs
Fiabilité
Dégradation par porteurs chauds (HCI)
Corrélation
Interaction
Variation process
Modélisation HCI
Relaxation
Bti
Porteurs chauds
Relaxation, Phénomènes de
Nanofil
Simulation
Modélisation