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des thèses françaises
Jan Andersson
IdRefMots clés
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EN
Particules ionisantes
Aléas~logiques (SEU)
Set
(Ser)
Détection
Classification
Substrat massif
Silicium~sur~isolant totalement~déserté (FD-SOI)
28~nm
22~nm
40~nm
Durcissement électronique
Système-Sur-Puce (SoC)
Attaques laser
Nanotechnologie
Nanoélectronique
Systèmes embarqués (informatique)
Semiconducteurs
Rayonnements ionisants
Radioprotection