Jean Almoric
IdRefMots clés
FR |
EN
Spectromètre de masse d'ions secondaires
Temps de vol orthogonal
Faisceau d'ions focalisés
Caractérisation nanomètrique
Superalliages à base Ni
Mémoire à changement de phase GST
Nanotechnologie
Microélectronique
Spectrométrie de masse des ions secondaires
Semiconducteurs
Alliages réfractaires
Spectroscopie à haute résolution
Microscopie électronique à balayage
Imagerie tridimensionnelle haute résolution
Avions -- Moteurs