Pascal Bichebois
IdRefMots clés
FR
Sciences appliquees
Electronique
Fabrication microelectronique
Rendement matiere
Circuit integre
Technologie mos complementaire
Inspection
Essai automatique
Detection defaut
Analyse dommage
Panne
Modelisation
Revue de defauts
Analyse de defaillance
Correlation defauts pannes
Marge de tolerance
Microelectronic fabrication
Yield(material economy)
Integrated circuit
Complementary mos technology