Abdelkader Hassein-Bey
IdRefMots clés
FR
Sciences appliquees
Electronique
Etude theorique
Simulation numerique
Modelisation
Caracterisation
Vieillissement
Analyse dommage
Fiabilite
Transistor mos
Technologie silicium sur isolant
Transistor couche mince
Extraction parametre
Defaut localise
Ultra court
Couplage interface
Theoretical study
Numerical simulation
Modeling
Characterization