Peter Moonen
Mots clés
FR |
EN
Tomographie
Microtomographie
Microtomographie RX
Rayons X
Imagerie à rayons X
Mouillabilité
Test Amott
Ecoulement en milieu poreux
Analyse à l’échelle des pores
Contraste de Phase
CFRP
Foudroiement
Interférométrie
Rayons X -- Diffraction
Microscopes à contraste de phase
Composites à fibres de carbone
Recalage d'image
Batteries solides
Méthode des éléments finis MEF
Jumeau numérique