Jérôme Hazart
Mots clés
FR |
EN
Microélectronique
Semiconducteurs
Lithographie
Métrologie
Microscopie électronique à balayage
Métrologie hybride
Fusion de données
Microelectronique
Precision
Incertitudes de mesure
Nanostructures
Incertitude de mesure
Mesure
Meb
Semiconducteur
Circuits intégrés
3D
Problèmes Inverses
Problèmes inverses (équations différentielles) -- Solutions numériques
Cd-Sem 3d