Avancées technologiques et caractérisations pour l'intégration de dispositifs SiC photoniques et de puissance
| Auteur / Autrice : | Énora Vuillermet |
| Direction : | Mihai Bogdan Lazar |
| Type : | Thèse de doctorat |
| Discipline(s) : | Matériaux, Mécanique, Optique et Nanotechnologie |
| Date : | Soutenance le 23/01/2025 |
| Etablissement(s) : | Troyes |
| Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Sciences pour l'Ingénieur (Troyes, Aube) |
| Partenaire(s) de recherche : | Collectivité territoriale : Grand Est |
| Laboratoire : Lumière- nanomatériaux et nanotechnologies / L2n | |
| Jury : | Président / Présidente : Dominique Planson |
| Examinateurs / Examinatrices : Dominique Planson, Jean-Marie Bluet, Esidor Ntsoenzok, Rosine Coq Germanicus, Julie Widiez | |
| Rapporteurs / Rapporteuses : Jean-Marie Bluet, Esidor Ntsoenzok |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Le carbure de silicium (SiC), en raison de ses excellentes propriétés physiques, suscite un intérêt croissant dans l’industrie, notamment pour l’électronique de puissance. Utilisé dans des dispositifs à haute performance en température et en tension, comme ceux des véhicules électriques, le SiC bénéficie de substrats de qualité cristalline élevée et de faible densité de défauts, ce qui améliore les performances des composants électroniques. Ce matériau ouvre également de nouvelles perspectives pour des applications en photonique et en quantique grâce à l’ingénierie de certains défauts ponctuels, appelés centres colorés.Cette thèse présente des procédés innovants de caractérisation et de fabrication, tels que la recristallisation de films minces et la nanostructuration thermique, pour le développement de nouvelles architectures de dispositifs SiC. L’étude porte également sur la génération contrôlée de centres colorés par implantation ionique, tels que les lacunes de silicium et les bilacunes, pour leur exploitation en tant que sources de photons uniques dans les applications de photonique quantique. En raison de l’indice de réfraction élevé du SiC, ces défauts sont intégrés dans des réseaux de nanopiliers pour optimiser leur luminescence, offrant ainsi une solution simple et compatible avec les technologies CMOS pour l’émission de photons uniques.Ces travaux contribuent donc au développement de futurs dispositifs SiC, pour l’électronique de puissance et la photonique.