Modèles de dégradation et de fiabilité pour évaluer les performances de compatibilité électromagnétique des circuits intégrés sous contraintes environnementales
Auteur / Autrice : | Md Jaber Al Rashid |
Direction : | Mihaela Barreau, Laurent Saintis, Mohsen Koohestani |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Électronique, signal, génie industriel |
Date : | Soutenance le 13/11/2023 |
Etablissement(s) : | Angers |
Ecole(s) doctorale(s) : | Sciences de l'ingénierie et des systèmes (Centrale Nantes) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (EA7315) - Institut d'Électronique et de Télécommunications (Rennes) |
Ecole : École supérieure d'électronique de l'ouest (Angers) | |
Jury : | Président / Présidente : Bruno Castanier |
Examinateurs / Examinatrices : Philippe Besnier | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Tristan Dubois, Ghaleb Hoblos |
Résumé
Les conditions environnementales sévères peuvent avoir un effet significatif sur les performances en compatibilité électromagnétique (CEM) des circuits intégrés analogiques et numériques. En outre, un circuit intégré doit fonctionner de manière fiable dans un environnement électromagnétique. Dans cette thèse, des plans d’essai de dégradation accélérée sous contraintes constantes et échelonnées ont été mis en œuvre pour les circuits intégrés analogiques et numériques sélectionnés, suivis par la caractérisation de l’évolution de la performance de l’immunité conduite dans le domaine fréquentielle sous différentes durées de contrainte. Pour estimer la dégradation des performances CEM dans des conditions de vieillissement accéléré testées ou non, un modèle de dégradation basé sur la physique est combiné à un modèle de durée de vie accélérée pour prédire les métriques de fiabilité. L’approche boîte noire a été utilisée pour construire le modèle d’immunité conduite, qui a nécessité la caractérisation de l’effet du vieillissement au niveau du circuit intégré. L’influence du vieillissement accéléré sur dégradation des performances CEM a été incluse dans les blocs actifs et/ou passifs du modèle d’immunité.