Enrobage de carbone avancé par des polymères
Auteur / Autrice : | Dario Sciacqua |
Direction : | Johannes Berndt, Eva Kovacevic |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Physique |
Date : | Soutenance le 08/03/2022 |
Etablissement(s) : | Orléans |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Énergie, Matériaux, Sciences de la Terre et de l'Univers (Centre-Val de Loire ; 2012-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Groupe de recherches sur l'énergétique des milieux ionisés. UMR 7344 (Orléans ; 2012-....) |
Jury : | Président / Présidente : Pascal Brault |
Examinateurs / Examinatrices : Thomas Strunskus | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Nikša Krstulović, Cvelbar Uroš |
Mots clés
Résumé
Cette contribution traite des processus de polymérisation dans une décharge RF à couplage capacitif fonctionnant dans différents mélanges (Ar/aniline, aniline pure, acétylène) pour la production de films polymères minces. Le rôle des différentes espèces impliquées dans le processus, par exemple les ions positifs, les ions négatifs, les neutres pour le dépôt de films minces dans ces mélanges gazeux en fonction de différents paramètres expérimentaux (puissance, pression, rapport cyclique, débit, taux de pompage) est l'objectif principal de ce travail. Plusieurs méthodes expérimentales, y compris différentes électrodes maison (électrode structurée, électrode à coupelle), ont été employées pour séparer et distinguer partiellement les contributions des différentes espèces au cours du processus ainsi que la possibilité de les empêcher (filtrer) d'atteindre le substrat. Le filtrage des espèces produites dans le plasma peut offrir une nouvelle perspective pour le contrôle des processus de dépôt par plasma. La dernière partie du travail concernait le processus de dopage des films déposés et l'étude de leur stabilité. L'analyse du plasma a été réalisée à l'aide de plusieurs techniques comprenant l'interférométrie à micro-ondes, la spectrométrie de masse et le FT-IR in situ. Les matériaux déposés ont été étudiés par FT-IR, NEXAFS, XPS, ellipsométrie et microscopie optique.