Thèse soutenue

Microcopie à l'échelle atomique pour l'étude des défauts ponctuels et leurs couplages

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Florian Chabanais
Direction : Williams Lefebvre
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Physique
Date : Soutenance le 03/03/2022
Etablissement(s) : Normandie
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale physique, sciences de l’ingénieur, matériaux, énergie (Saint-Etienne du Rouvray, Seine Maritime)
Partenaire(s) de recherche : Etablissement de préparation de la thèse : Université de Rouen Normandie (1966-....)
Laboratoire : Groupe de physique des matériaux (Saint-Etienne-du-Rouvray, Seine-Maritime ; 1996-....)
Jury : Examinateurs / Examinatrices : Xavier Sauvage, Jean-Michel Chauveau, Lorenzo Rigutti
Rapporteur / Rapporteuse : Damien Fabrègue, Alain Portavoce

Résumé

FR  |  
EN

Ce travail porte sur l’étude de défauts ponctuels au sein d’alliages d’aluminium et de l’oxyde de gallium dopé à l’étain. L’objectif de cette thèse est d’améliorer la compréhension des phénomènes présents à l’échelle atomique, reliant les différents défauts structuraux et en particulier les défauts ponctuels. Ces travaux ont été réalisés par microscopie électronique en transmission à balayage (STEM) et par sonde atomique tomographique (SAT). D’abord, la cinétique de précipitation dans les alliages Al-Zr et Al-Mg-Zr fortement déformés par HPT (High Pression Torsion) a été étudiée. Lors d’un recuit à 230°C, suivi in situ en STEM, il a été observé, après seulement quelques secondes, la relaxation de certains joints de grains hors équilibre et la formation de cavités situées près des joints de grains triples. Après 3h de recuit, des précipités (de phase métastable Al3Zr-L12) apparaissent sur certains joints de grains. Cette précipitation integranulaire est expliquée par l’effet Kirkendall inverse, où un flux de Zr est couplé au flux de lacunes non stationnaire vers les joints de grains. Ensuite une étude sur la phase ε du Ga2O3 dopée au Sn a été réalisée. La première partie de ce travail a été de réaliser une étude métrologique de l’évaporation de ce matériau en SAT. Il a été observé des biais de composition dépendant des conditions d’analyses. La composition stœchiométrique n’est obtenue seulement pour un champ d’évaporation élevé (de l’ordre de 27 V.nm-1). Pour finir, une étude réalisée en MET a montré la structure hexagonale compacte de ε-Ga2O3 où les atomes dopant, Sn, sont situés sur les sites cristallographiques du Ga et peuvent être regroupés en petits amas de quelques atomes.