TY  - THES
DP  - http://www.theses.fr/2019GREAT088
TI  - Caractérisation et modélisation du vieillissement des circuits analogiques et RF en technologie 28 nm FDSOI
AU  - Lajmi, Rania
A3  - Benech, Philippe; Bourdel, Sylvain
PY  - 2019
N1  - Thèse de doctorat Nanoélectronique et nanotechnologie Université Grenoble Alpes (ComUE) 2019
N1  - 2019GREAT088
ER  -