Thèse soutenue

Conception et Fabrication hybride 3D monolithique de relais NEMS co-integrés CMOS

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Auteur / Autrice : Giulia Usai
Direction : Thomas ErnstTsu-Jae King Liu
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Nanoélectronique et nanotechnologie
Date : Soutenance le 05/12/2019
Etablissement(s) : Université Grenoble Alpes (ComUE)
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Laboratoire d'électronique et de technologie de l'information (Grenoble ; 1967-....)
Jury : Président / Présidente : Laurent Pichon
Examinateurs / Examinatrices : Louis Hutin
Rapporteurs / Rapporteuses : Nuria Barniol, Damien Deleruyelle

Résumé

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Ce travail de thèse porte sur les relais nano électromécaniques (NEMS en anglais). Afin de surmonter la limite d’efficacité énergétique inhérente à la technologie CMOS, l’utilisation de relais NEMS pour des circuits logiques a été récemment proposée. En effet, les bénéfices cumulés d’un courant nul à l’état bloqué et d’une commutation abrupte permettent d’améliorer le compromis puissance-performance lorsque la tension d’alimentation VDD est réduite.Cependant, les relais NEMS sont limités intrinsèquement par leur endurance, leur fréquence de fonctionnement ainsi que par leur faible densité d’intégration. De ce fait, une approche complémentaire basée sur la co-intégration entre CMOS et relais (mémoire tampon, éléments non volatiles…) plutôt qu’un remplacement semble plus pertinente à court terme. Une intégration 3D monolithique permet l’ajout de tels éléments sur la même surface tout en bénéficiant d’une précision d’alignement lithographique. De plus, pour certains dispositifs (ex. sans couche diélectrique), une plus grande immunité aux radiations ionisantes est attendue, ouvrant des perspectives dans les domaines des applications militaires ou spatiales.En particulier, ce travail de thèse explore les forces et les faiblesses de ces structures et identifie des applications à fort potentiel. Il comprend en outre la conception de prototypes correspondants, depuis leur modélisation et simulation permettant un dimensionnement fonctionnel, le perfectionnement de l’intégration 3D « NEMS sur CMOS », et enfin leurs tests électriques. A la lumière de ces analyses, des recommandations sont fournies pour le développement de circuits hybrides 3D CMOS/NEMS pour la logique et les mémoires avancés.