Auteur / Autrice : | Pierre Payet |
Direction : | Laurent Chusseau |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Électronique |
Date : | Soutenance le 01/10/2018 |
Etablissement(s) : | Montpellier |
Ecole(s) doctorale(s) : | École Doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Institut d'électronique et des systèmes (Montpellier) |
Jury : | Président / Présidente : Damienne Bajon |
Examinateurs / Examinatrices : Laurent Chusseau, Damienne Bajon, Tuami Lasri, Philippe Besnier, Jean-Paul Guillet, Jérémy Raoult | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Tuami Lasri, Philippe Besnier |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
Les microscopes en champ proche micro-ondes sont des outils émergents pour la caractérisation des matériaux. Dans ce travail, une sonde de champ proche a été conçue, décrite et analysée en termes de performance et de résolution. Cette sonde a été associée à deux microscopes en champ proche micro-ondes. Le premier microscope est basé sur de la réflectométrie en intensité et a permis d'évaluer la qualité et la résolution latérale de la sonde. Cette résolution peut atteindre une dimension sub-longueur d'onde ouvrant la voie pour une caractérisation locale des matériaux. La seconde expérience présente la conception d'un banc de caractérisation des matériaux. Ce système met en œuvre un mélangeur I/Q afin d'extraire l'information en intensité et en phase de l'interaction en champ proche. Enfin, la dernière expérience concerne l'injection électromagnétique en champ proche d'un signal hors-bande sur un module de communication. L'ensemble des résultats montrent que l'expérience d'injection en champ proche a le potentiel pour devenir un outil de métrologie important pour l'étude de la susceptibilité.