Thèse soutenue

Injection électromagnétique et microscopie en champ proche
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Auteur / Autrice : Pierre Payet
Direction : Laurent Chusseau
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance le 01/10/2018
Etablissement(s) : Montpellier
Ecole(s) doctorale(s) : École Doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Institut d'électronique et des systèmes (Montpellier)
Jury : Président / Présidente : Damienne Bajon
Examinateurs / Examinatrices : Laurent Chusseau, Damienne Bajon, Tuami Lasri, Philippe Besnier, Jean-Paul Guillet, Jérémy Raoult
Rapporteurs / Rapporteuses : Tuami Lasri, Philippe Besnier

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Les microscopes en champ proche micro-ondes sont des outils émergents pour la caractérisation des matériaux. Dans ce travail, une sonde de champ proche a été conçue, décrite et analysée en termes de performance et de résolution. Cette sonde a été associée à deux microscopes en champ proche micro-ondes. Le premier microscope est basé sur de la réflectométrie en intensité et a permis d'évaluer la qualité et la résolution latérale de la sonde. Cette résolution peut atteindre une dimension sub-longueur d'onde ouvrant la voie pour une caractérisation locale des matériaux. La seconde expérience présente la conception d'un banc de caractérisation des matériaux. Ce système met en œuvre un mélangeur I/Q afin d'extraire l'information en intensité et en phase de l'interaction en champ proche. Enfin, la dernière expérience concerne l'injection électromagnétique en champ proche d'un signal hors-bande sur un module de communication. L'ensemble des résultats montrent que l'expérience d'injection en champ proche a le potentiel pour devenir un outil de métrologie important pour l'étude de la susceptibilité.