Nouvelles stratégies de contrôle avancé pour les procédés sidérurgiques
Auteur / Autrice : | Mohamad Taki Asghar |
Direction : | Marc Jungers, Irinel Constantin Morarescu |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Automatique, Traitement du signal et des images, Génie informatique |
Date : | Soutenance le 03/05/2018 |
Etablissement(s) : | Université de Lorraine |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale IAEM Lorraine - Informatique, Automatique, Électronique - Électrotechnique, Mathématiques de Lorraine (1992-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Centre de recherche en automatique (Nancy) |
Jury : | Président / Présidente : Edouard Laroche |
Examinateurs / Examinatrices : Catherine Bonnet, Ahmed Khelassi, Suzanne Lesecq | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Edouard Laroche, Catherine Bonnet |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Mots clés libres
Résumé
L'industrie sidérurgique rencontre depuis des années un développement important. Les caractéristiques des produits destinés aux différents secteurs industriels deviennent de plus en plus exigeantes. Actuellement des régulateurs avancés de type PID sont utilisés avec une structure multi-boucles locales. Afin de traiter les cahiers des charges de plus en plus contraints, il devient intéressant de revoir cette stratégie de contrôle. Ce sujet de thèse CIFRE entre ArcelorMittal et le CRAN a pour objectif de proposer de nouvelles stratégies de contrôle avancé pour le laminage à froid des bandes d'acier de type tôle fine, notamment des stratégies centralisées de contrôle remplaçant des boucles de régulation locales et indépendantes, afin d'élargir le champ des matériaux traitables, d'augmenter et d'optimiser la productivité et les capabilités du procédé ainsi que de minimiser les coûts de production. Dans une première partie, une étude bibliographique sera effectuée afin de mieux cerner les différents modèles métallurgiques et dynamiques du système à piloter. Dans une seconde partie, le cahier des charges sera traduit en termes d'un problème d'optimisation dont la solution est un contrôleur de type retour d'état. Enfin dans une troisième et dernière partie, une synthèse de retour de sortie dynamique sera proposée pour résoudre le problème des mesures manquantes