Thèse soutenue

Techniques de couche basse efficaces pour les réseaux de nanocommunications électromagnétiques

FR  |  
EN
Auteur / Autrice : Muhammad Agus Zainuddin
Direction : Julien BourgeoisEugen Dedu
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Informatique
Date : Soutenance le 17/03/2017
Etablissement(s) : Bourgogne Franche-Comté
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Sciences pour l'ingénieur et microtechniques (Besançon ; 1991-....)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : FEMTO-ST Franche Comté Electronique Mécanique Thermique et Optique - Sciences et Technologies - Franche-Comté Électronique Mécanique- Thermique et Optique - Sciences et Technologies / FEMTO-ST
Etablissement de préparation : Université de Franche-Comté (1971-....)
Jury : Président / Présidente : Pascal Lorenz
Examinateurs / Examinatrices : Julien Bourgeois, Eugen Dedu, Pascal Lorenz, Thomas Noël, Ye-Qiong Song
Rapporteurs / Rapporteuses : Thomas Noël, Ye-Qiong Song

Résumé

FR  |  
EN

Nous avons proposé nanocode bloc simple pour assurer la fiabilité des communications nano. Nous proposons également la compression d'image simple, efficace de l'énergie pour les communications nano. Nous étudions les performances des méthodes proposées en termes d'efficacité énergétique, le taux d'erreur binaire et de robustesse contre les erreurs de transmission. Dans la compression d'image pour les communications nano, nous comparons notre méthode proposée SEIC avec compression standart images des méthodes telles que JPEG, JPEG 2000, GIF et PNG. Les résultats montrent que notre méthode proposée surpasse les méthodes de compression d'image standard dans la plupart des indicateurs. Dans la compression d'erreur pour les communications nano, nous proposons nanocode de simple bloc (SBN) et comparer la performance avec le code de correction d'erreur existant pour nanocommunication, tels que Canal Minimum Energy (MEC) et le faible poids de la Manche (LWC) codes. Le résultat montre que notre méthode proposée surpasse MEC et LWC en termes de fiabilité et de la complexité du matériel.