Effet de la contrainte liée à l’épitaxie sur l’anisotropie magnétique dans les couches minces de LSMO en vue d’applications spintroniques
Auteur / Autrice : | Sandeep kumar Chaluvadi |
Direction : | Laurence Méchin |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique, microelectronique, optique et lasers, optoelectronique microondes |
Date : | Soutenance le 13/12/2017 |
Etablissement(s) : | Normandie |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale mathématiques, information et ingénierie des systèmes (Caen) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Groupe de recherche en informatique, image, automatique et instrumentation de Caen (1995-....) |
établissement de préparation : Université de Caen Normandie (1971-....) | |
Jury : | Président / Présidente : Frédéric Mazaleyrat |
Examinateurs / Examinatrices : Laurence Méchin, Michel Viret, Mohamed Belmeguenai, Paolo Perna, Alexandra Mougin | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Michel Viret, Mohamed Belmeguenai |
Mots clés
Mots clés contrôlés
Résumé
Nous présentons une étude des effets de contrainte induits par l’épitaxie dans des couches minces La1-xSrxMnO3 (LSMO) (001) (x = 0.33) pour 3 épaisseurs de films (50, 25 et 12 nm) déposés par Ablation Laser Pulsée (PLD) sur différents substrats tels que SrTiO3 (STO) (001), STO buffered MgO (001), NdGaO3 (NGO) (110) et (LaAlO3)0.3(Sr2AlTaO6)0.7 (LSAT) (001). L’étude est complétée par l’effet de la composition sur les propriétés magnétiques de couches minces de La1-xSrxMnO3 avec x=0,33 et 0,38 déposées par Epitaxie à Jets Moléculaires (MBE). Des caractérisations par diffraction de rayons X (XRD), et microscopie à force atomique (AFM), des mesures de résistivité électrique en quatre points en fonction de la température, d’aimantation par magnetometrie à SQUID (Superconducting Quantum Interference Device) et d’anisotropie magnétique par magnétométrie magnéto-optique Kerr vectorielle (MOKE) sont présentées. Les évolutions angulaires de l’anisotropie magnétique, de l’aimantation à rémanence, du champ coercitif et du champ de renversement d’aimantation ont ainsi pu être analysées pour des films épitaxiés LSMO de différentes épaisseurs. Des études en fonction de la température complètent les données. L’origine de l’anisotropie (magnétique, magnétocristalline, magnétostrictive ou liée aux effets de marches et d’angle de désorientation du substrat) est finalement discutée.