Thèse soutenue

Étude des mécanismes de déclenchement des Bits Collés dans les SRAM et DRAM en Environnement Radiatif Spatial

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Auteur / Autrice : Axel Rodriguez
Direction : Frédéric WrobelAntoine Touboul
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Électronique
Date : Soutenance le 02/03/2017
Etablissement(s) : Montpellier
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015-....)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Institut d’Electronique et des Systèmes / IES
Jury : Président / Présidente : Jérôme Boch
Examinateurs / Examinatrices : Frédéric Wrobel, Antoine Touboul, Jérôme Boch, Mourad Benabdesselam, Bruno Barelaud, Françoise Bezerra, Nathalie Chatry
Rapporteurs / Rapporteuses : Mourad Benabdesselam, Bruno Barelaud

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Les résultats de différentes expériences du CNES (Centre National d’Études Spatiales) embarquées sur satellites montrent que des composants SRAM et SDRAM subissent des erreurs atypiques, qui se caractérisent par une fraction d’emplacements mémoire présentant des erreurs récurrentes. Ces erreurs non-catégorisées représentent la quasi-totalité des erreurs détectées sur ces mémoires. Une revue interne du CNES a déterminé que ces erreurs étaient dues aux radiations présentes dans l’environnement spatial (protons, électrons, ions lourds). Cette thèse s’attache à reproduire ces erreurs atypiques au sol en utilisant des moyens d’irradiation et des accélérateurs de particules, à les caractériser ainsi qu’à expliquer le mécanisme physique menant à l’apparition de ces cellules endommagées. Le mécanisme physique que nous proposons est cohérent avec les données obtenues sous faisceau de particules et soutenu par nos simulations de type TCAD.