Thèse soutenue

Développement multipolaire en harmoniques sphériques et propagation des incertitudes appliqués à la modélisation de source de rayonnement en compatibilité électromagnétique
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Auteur / Autrice : Zhao Li
Direction : Laurent KrähenbühlArnaud Breard
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Génie électrique
Date : Soutenance le 28/11/2017
Etablissement(s) : Lyon
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Électronique, électrotechnique, automatique (Lyon)
Partenaire(s) de recherche : établissement opérateur d'inscription : École Centrale de Lyon (1857-....)
Laboratoire : Laboratoire AMPERE (Ecully, Rhône) - Ampère
Jury : Président / Présidente : Olivier Chadebec
Examinateurs / Examinatrices : Laurent Krähenbühl, Arnaud Breard, Kévin Berger
Rapporteurs / Rapporteuses : Viviane Cristine Silva, Lionel Pichon

Mots clés

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Mots clés contrôlés

Résumé

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Avec les progrès de la technologie, la densité de puissance des appareils électriques augmente, ce qui conduit à une augmentation des interférences électromagnétiques entre deux systèmes d’électroniques de puissance. Ces interférences peuvent engendrer un dysfonctionnement des appareillages. Afin d’éviter de tels problèmes, une grande quantité de vérifications expérimentaux sont nécessaires après le développement d’un prototype, ce qui conduira à un surcoût important dans son cycle industriel. Cette thèse a pour objectif de prendre en compte des problèmes de compatibilité électromagnétique en champ proche dès la phase de conception d’un produit. Ceci est basé sur le développement en harmoniques sphériques du rayonnement parasite engendré par les dispositifs ou les composants d’un dispositif. Les coefficients harmoniques d’un dispositif permettent non seulement de modéliser ses champs proches par une source ponctuelle, mais également de déterminer le couplage inductif avec les autres. Dans ce contexte, la méthode du développement multipolaire est étudiée théoriquement, numériquement (par le logiciel Flux3D) et expérimentalement dans ce travail. Dans ce document, le nouveau système de mesure automatisé est présenté et différentes approches liées à la solution de ce problème sont étudiées, tels que le choix optimal d’origine du développement, la compensation d’erreurs des mesures dues aux sources secondaires, l’étude de propagation d’incertitude dans le problème inverse et prise en compte d’informations a priori, etc.