Auteur / Autrice : | Pablo Francisco Ramos Vargas |
Direction : | Raoul Velazco |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Nano electronique et nano technologies |
Date : | Soutenance le 18/04/2017 |
Etablissement(s) : | Université Grenoble Alpes (ComUE) |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble ; 199.-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Techniques de l’informatique et de la microélectronique pour l’architecture des systèmes intégrés (Grenoble ; 1994-....) |
Jury : | Président / Présidente : Alain Sylvestre |
Rapporteurs / Rapporteuses : Lirida Alves de Barros Naviner, Pascal Benoit |
Mots clés
Résumé
La présente thèse vise à évaluer la sensibilité statique et dynamique face aux SEE de trois dispositifs COTS différents. Le premier est le processeur multi-cœurs P2041 de Freescale fabriqué en technologie 45nm SOI qui met en œuvre ECC et la parité dans leurs mémoires cache. Le second est le processeur multifonction Kalray MPPA-256 fabriqué en technologie CMOS 28nm TSMC qui intègre 16 clusters de calcul chacun avec 16 cœurs, et met en œuvre ECC dans ses mémoires statiques et parité dans ses mémoires caches. Le troisième est le microprocesseur Adapteva E16G301 fabriqué en 65nm CMOS processus qui intègre 16 cœurs de processeur et ne pas mettre en œuvre des mécanismes de protection. L'évaluation a été réalisée par des expériences de rayonnement avec des neutrons de 14 Mev dans des accélérateurs de particules pour émuler un environnement de rayonnement agressif, et par injection de fautes dans des mémoires cache, des mémoires partagées ou des registres de processeur pour simuler les conséquences des SEU dans l'exécution du programme. Une analyse approfondie des erreurs observées a été effectuée pour identifier les vulnérabilités dans les mécanismes de protection. Des zones critiques telles que des Tag adresses et des registres à usage général ont été affectées pendant les expériences de rayonnement. De plus, l'approche Code Emulating Upset (CEU), développée au Laboratoire TIMA, a été étendue pour des processeurs multi-cœur et many-cœur pour prédire le taux d'erreur d'application en combinant les résultats issus des campagnes d'injection de fautes avec ceux issus des expériences de rayonnement.