TY  - THES
DP  - http://www.theses.fr/2015AIXM4335
TI  - Fiabilité Porteurs Chauds (HCI) des transistors FDSOI 28nm High-K grille métal
AU  - Arfaoui, Wafa
A3  - Bravaix, Alain; Munteanu, Daniela
PY  - 2015
N1  - Thèse de doctorat Micro et Nanoélectronique Aix-Marseille 2015
N1  - 2015AIXM4335
ER  -