Modélisation de transistors à effet de champ pour les applications térahertz
Auteur / Autrice : | Abdelhamid Mahi |
Direction : | Luca Varani, Christophe Palermo |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance le 16/12/2014 |
Etablissement(s) : | Montpellier 2 en cotutelle avec Université Tahri Mohammed de Béchar |
Ecole(s) doctorale(s) : | Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; École Doctorale ; 2009-2014) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Institut d’Electronique et des Systèmes / IES |
Jury : | Examinateurs / Examinatrices : Luca Varani, Christophe Palermo, Jean-Luc Thobel, Nicolas Cavassilas, Javier Mateos, Dominique Coquillat |
Rapporteur / Rapporteuse : Jean-Luc Thobel, Nicolas Cavassilas |
Mots clés
Résumé
L'objectif de ce travail de thèse est l'exploitation des oscillations de plasma bidimensionnelles dans les transistors à haute mobilité électronique à base d'InGaAs, matériaux de grand intérêt pour les applications Terahertz grâce à sa haute mobilité électronique. Ce travail s'insère dans le contexte d'études récentes dans lesquelles l'utilisation de dis- positifs basés sur l'excitation d'ondes de plasma bidimensionnelles a été proposée pour des applications Terahertz. Cette étude est menée au travers du développement d'un outil numérique de simulation basé sur le modèle hydrodynamique couplé avec l'équation de Poisson pseudo 2D. La réponse continue du courant à une excitation électrique de fréquence THz a été étudiée et l'influence sur les résonances de plasma des différents paramètres de transistor est mise en évidence. Une étude de la densité spectrale de la fluctuation du courant est alors présentée en vue d'établir une coordination entre le bruit dans les HEMT et la détection directe d'un signal électrique THz. La réponse de HEMT à différentes perturbation au niveau de drain et de la grille est enfin évaluée par le biais de la description du régime petit-signal, ce qui permettrait éventuellement une étude plus approfondie des ondes de plasma dans les transistors HEMT.