Lithographie par division de pas de réseau pour les circuits logiques avancés
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Auteur / Autrice : | Sylvain Moulis |
Direction : | Régis Orobtchouk |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Microélectronique |
Date : | Soutenance le 20/11/2014 |
Etablissement(s) : | Lyon, INSA |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale Électronique, électrotechnique, automatique (Lyon) |
Partenaire(s) de recherche : | Laboratoire : Institut des Nanotechnologies de Lyon (Ecully, Rhône) - Institut des Nanotechnologies de Lyon - Site de l'INSA / INL |
Jury : | Président / Présidente : Bruno Masenelli |
Examinateurs / Examinatrices : Régis Orobtchouk, Bruno Masenelli, Jumana Boussey, Olivier Soppera, Vincent Farys, Gérard Granet | |
Rapporteur / Rapporteuse : Jumana Boussey, Olivier Soppera |
Mots clés
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Mots clés contrôlés
Résumé
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Aujourd'hui, les outils de lithographie utilisés dans l'industrie arrivent à leur limite de résolution en simple exposition. Pour continuer à diminuer les dimensions, il faut utiliser des techniques de double exposition, mais cela entraîne une explosion des coûts de fabrication. Cette thèse se focalise sur les aspects de modélisation de deux techniques, Sidewall Image Transfer et Directed Self-Assembly, qui sont pressenties pour permettre à l'industrie de continuer la réduction des dimensions des transistors, tout en minimisant les coûts.