Thèse soutenue

Lithographie par division de pas de réseau pour les circuits logiques avancés

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Auteur / Autrice : Sylvain Moulis
Direction : Régis Orobtchouk
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Microélectronique
Date : Soutenance le 20/11/2014
Etablissement(s) : Lyon, INSA
Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale Électronique, électrotechnique, automatique (Lyon)
Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Institut des Nanotechnologies de Lyon (Ecully, Rhône) - Institut des Nanotechnologies de Lyon - Site de l'INSA / INL
Jury : Président / Présidente : Bruno Masenelli
Examinateurs / Examinatrices : Régis Orobtchouk, Bruno Masenelli, Jumana Boussey, Olivier Soppera, Vincent Farys, Gérard Granet
Rapporteur / Rapporteuse : Jumana Boussey, Olivier Soppera

Résumé

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Aujourd'hui, les outils de lithographie utilisés dans l'industrie arrivent à leur limite de résolution en simple exposition. Pour continuer à diminuer les dimensions, il faut utiliser des techniques de double exposition, mais cela entraîne une explosion des coûts de fabrication. Cette thèse se focalise sur les aspects de modélisation de deux techniques, Sidewall Image Transfer et Directed Self-Assembly, qui sont pressenties pour permettre à l'industrie de continuer la réduction des dimensions des transistors, tout en minimisant les coûts.