Conception d'amplificateurs de puissance hautement linéaires à 60 GHz en technologies CMOS nanométriques
Auteur / Autrice : | Aurélien Larie |
Direction : | Eric Kerhervé |
Type : | Thèse de doctorat |
Discipline(s) : | Electronique |
Date : | Soutenance le 31/10/2014 |
Etablissement(s) : | Bordeaux |
Ecole(s) doctorale(s) : | École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde ; 1995-....) |
Partenaire(s) de recherche : | Etablissement d'accueil : Université Bordeaux-I (1971-2013) |
Laboratoire : Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) | |
Jury : | Président / Présidente : Yann Deval |
Examinateurs / Examinatrices : Laurent Leyssenne, Thierry Taris, Lionel Vogt, Baudouin Martineau, Denis Masliah | |
Rapporteurs / Rapporteuses : Jean-Louis Cazaux, Denis Barataud |
Mots clés
Résumé
Dans le cadre des applications sans fil à 60GHz, l’amplificateur de puissance reste un des composants les plus compliqués à implémenter en technologie CMOS. Des modulations à enveloppe non constante obligent à concevoir des circuits hautement linéaires, conduisant à une consommation statique importante. La recherche de topologies et de techniques de linéarisation viables aux fréquences millimétriques fait l’objet de cette thèse. Dans un premier temps, un état de l’art des différents amplificateurs de puissance à 60GHz est dressé, afin d’en extraire l’ensemble des verrous technologiques limitant leurs performances. Suite à l’analyse des phénomènes physiques impactant les composants passifs, plusieurs structures d’amplificateurs élémentaires sont conçues dans les technologies 65nm et 28nm Bulk. Les topologies les plus pertinentes sont déduites de cette étude. Enfin, deux amplificateurs intégrant des techniques de combinaison de puissance et de linéarisation sont implémentés dans les technologies 65nm et 28nm FD-SOI. Ces deux circuits présentent les plus hauts facteurs de mérite ITRS publiés à ce jour. Le circuit en 28nm FD-SOI atteint en outre le meilleur compromis linéarité/consommation de l’état de l’art.