Thèse soutenue

Etude des mécanismes de précipitation, de recristallisation et de transformation de phases dans les aciers Dual Phase microalliés au titane niobium lors du recuit

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Auteur / Autrice : Clément Philippot
Direction : Philippe Maugis
Type : Thèse de doctorat
Discipline(s) : Matière condensée et nanosciences
Date : Soutenance le 10/12/2013
Etablissement(s) : Aix-Marseille
Ecole(s) doctorale(s) : École Doctorale Physique et sciences de la matière (Marseille)
Jury : Président / Présidente : Frédéric Danoix
Rapporteurs / Rapporteuses : Alain Hazotte, Mohamed Gouné
DOI : 10.70675/1fc3556bzc062z4390za75bzab942b528ece

Résumé

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L’allégement des véhicules est l’un des objectifs prioritaires des constructeurs automobile pour répondre aux directives environnementales d’émission de CO2. Le développement des aciers multiphasés à très haute résistance mécanique est l’une des solutions communément adoptées pour réduire l’épaisseur des tôles dans les véhicules tout en conservant leur capacité à assurer la sécurité des passagers. La présente étude porte sur l’optimisation des paramètres du procédé de production industrielle de l’une des ces familles d’aciers : les aciers Dual Phase microalliés au titane et au niobium de haut grade ; c'est-à-dire possédant une résistance à la rupture supérieure à 800MPa.A partir d’une microstructure initiale bainite + martensite laminée à froid, les différents phénomènes se produisant au cours du recuit, de la chauffe jusqu’à la fin du maintien intercritique, sont caractérisés. L’influence des paramètres du recuit comme la vitesse de chauffe, la température et le temps de maintien est étudiée. Le système d’interactions triple entre la précipitation des éléments de microalliage, la recristallisation et la formation de l’austénite est au cœur du problème. Un scénario des évolutions microstructurales a été établi à partir de la caractérisation des divers phénomènes. La finesse de la microstructure étudiée (sub-micrométrique) a nécessité l’emploi combiné de techniques de caractérisation multi-échelles : MEB, MET, sonde atomique tomographique, nano-SIMS.