Contribution au développement des techniques de mesures en champ proche pour des applications CEM : conception d'un banc électro-optique

Contribution in the development of near field measuring techniques for EMC applications: conception of an EO test bench

• Auteur / Autrice : David Chevallier
• Direction : Anne Louis
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Electronique, photonique
• Date : Soutenance en 2012
• Etablissement(s) : Rouen
• Ecole(s) doctorale(s) : École doctorale sciences physiques mathématiques et de l'information pour l'ingénieur (Saint-Etienne-du-Rouvray, Seine-Maritime....-2016)
• Partenaire(s) de recherche : Laboratoire : Institut de recherche en systèmes électroniques embarqués (Saint-Étienne-du-Rouvray, Seine-Maritime2001-...)

Mots clés

Mots clés contrôlés

Couplage, Théorie du

Biréfringence

Optique en champ proche

Compatibilité électromagnétique

Résumé

Ce travail de thèse décrit le développement d’un moyen de mesures en champ proche pour des applications CEM. Etant donné l’évolution actuelle des circuits électroniques, ce banc doit avoir des caractéristiques précises en termes de sensibilité, bande passante et résolution spatiale. Il doit également permettre de distinguer les composantes des champs E et H et de réaliser des cartographies. Le manuscrit présente les différentes techniques utilisées actuellement en champ proche. Le choix de la technique retenue est justifié, puis le nouveau banc utilisant l’effet Pockels est décrit. Ensuite, des mesures ont été conduites sur plusieurs circuits et les résultats comparés avec ceux obtenus au moyen d’une technique électronique directe. Suite à ces résultats, plusieurs perspectives d’améliorations du banc optique sont proposées afin de pouvoir quantifier l’ensemble des paramètres utilisés en microélectronique.

Through this thesis, the development of a near field test bench for EMC applications is presented. The setup needs to have specifications (Sensitivity, bandwidth, spatial resolution) adapted to microelectronics circuits. It also needs to perform 2D measurements of E and H emitted field. This manuscript shows different techniques used in near field analysis. The technique picked (Pockels effect) and its associated test bench are then described. Finally, after measurements over several circuits, the global performances of this optical test bench are discussed. To conclude, some suggestions for future improvements of the setup are proposed.