Carrier injection and degradation mechanisms in advanced NOR Flash memories
Investigation des mécanismes d'injection des porteurs chauds, de tunneling et de dégradation pour les diélectriques dans les technologies avancées CMOS et mémoires non-volatiles
Résumé
L'auteur n'a pas fourni de résumé en anglais
L'auteur n'a pas fourni de résumé en français
Origine : Version validée par le jury (STAR)
Loading...